2010 Классификатор средств измерений по годам

Оборудование

Для экспрессного измерения дьпкности отработавших газов автомобилей, оснащенных двигателями с воспламенением от сжатия, тракторов, а также других транспортных средств и стационарных установок с дизельными двигателями, тепловозов, морских и речных суд...
Для измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком. Микроскоп может применяться при проведения научных...
Для измерений массы вторичных ионов, возникающих при послойном травлении исследуемого объекта потоком первичных ионов. Прибор применяется для контроля дозы имплантации, измерений глубин р-n переходов, разработки технологических процессов, послойного...
44974-10
КОНЕ ВИУА Система автоматизированная
Фирма "Kone Oy Instrument Division", Финляндия
Для разлива проб и реактивов с последующим измерением оптической плотности. Применяется для определения содержания подвижного фосфора в почве в аграрно-химической лаборатории.
44973-10
УДС2-РДМ-22М Дефектоскопы ультразвуковые
ООО "РДМ-контакт", г.Москва
Для обнаружения дефектов в обеих нитях железнодорожного пути по всей длине и сечению рельса, за исключением перьев подошвы, при сплошном контроле со скоростью движения до 4 км/ч, а также для выборочного ручного контроля сварных стыков, отдельных сече...
44972-10
ТХА-08.000-01 Преобразователи термоэлектрические
ФГУП НИИ НПО "ЛУЧ", г.Подольск
Для непрерывного измерения температуры натрия реактора БН-600, в том числе кратковременно в условиях запроектной аварии. Могут быть использованы в различных отраслях промышленности для измерений температуры жидких и газообразных сред, химически неагр...
Материалы в Госреестр не поступалиДокументы в Росстандарте и в 2010 г. в Госреестр не поступали
Для измерения избыточного и вакуумметрического давления неагрессивных некристаллизующихся жидкостей и газов, в том числе кислорода и применяют для контроля технологических процессов в различных отраслях промышленности.
44969-10
S1937 Мера рельефная с наночастицами олова
Фирма "Agar Scientific, Ltd.", Великобритания
Для измерения погрешности микроскопов электронных растровых (РЭМ) в диапазоне 1,2...100 нм при их поверке (калибровке).
44968-10
S140 Мера рельефная графитовая
Фирма "Agar Scientific, Ltd.", Великобритания
Для передачи размера единицы длины в диапазоне 10^(-9)...10^(-8) м. Применяется для поверки и калибровки микроскопов электронных просвечивающих
44967-10
NVision 40 Микроскоп растровый электронный
Фирма "Carl Zeiss, Inc.", Германия
Для измерений линейных размеров микрорельефа твердотельных структур. Применяется в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, геологии, биологии, металлургии, а также в лабораториях промышленных предприятий, научно-исследоват...
44966-10
S106 Мера периода рельефная
Фирма "Agar Scientific, Ltd.", Великобритания
Для передачи размера единицы длины в диапазоне 10^(-8)...10^(-5) м. Применяется для поверки и калибровки высокоточных микроскопов электронных просвечивающих и других средств измерений малой длины.
44965-10
MiniFlex II Дифрактометры рентгеновские
Фирма "Rigaku Corporation", Япония
Для измерения углового распределения интенсивности отраженного пучка рентгеновских лучей. Назначения: - определение угловой позиции максимумов (в упрощенных вариантах обработки данных - центров тяжести) дифракционных отражений (Брэгговских отражений)...