44965-10: Дифрактометры рентгеновские MiniFlex II

Для измерения углового распределения интенсивности отраженного пучка рентгеновских лучей. Назначения: - определение угловой позиции максимумов (в упрощенных вариантах обработки данных - центров тяжести) дифракционных отражений (Брэгговских отражений), определение параметров кристаллической решетки, оценка качественного фазового состава с использованием баз кристаллографических данных и с использованием калибровочных зависимостей состав-параметр кристаллической решетки; определение интегральных интенсивностей Брэгговских отражений, их отношений и проведение на основе этих данных качественного и количественного фазового анализа веществ и материалов; определение интегральной ширины и полуширины Брэгговских отражений, расчет вкладов структурных несовершенств - дефектов строения кристаллической решетки ("физических вкладов") в интегральную ширину, (в величину "физического уширения" дифракционных отражений), расчёт на их основе угловой зависимости этих вкладов характеристик микроструктуры (микронапряжений и размеров областей когерентного рассеяния). Область применения: металлургия, геология, машиностроение, электронная, фармацевтическая и энергетическая промышленность, охрана окружающей среды, строительство, таможенный надзор, научные исследования и др.

Основные данные
Госреестр №	44965-10
Наименование	Дифрактометры рентгеновские
Модель	MiniFlex II
Технические условия	тех.документация фирмы
Класс СИ	31.01
Год регистрации	2010
Методика поверки	Приложение А к Руководству по эксплуатации ВНИИМС
Межповерочный интервал	1 год
Страна-производитель	Япония
Центр сертификации СИ
Наименование	ГЦИ СИ ВНИИМС
Адрес	119361, г.Москва, Озерная ул., 46
Руководитель	Кононогов Сергей Алексеевич
Телефон	(8*095) 437-55-77
Факс	437-56-66
Информация о сертификате
Срок действия сертификата	01.08.2015
Номер сертификата	40503
Тип сертификата (На серию или на партию)	С
Дата протокола	03д от 29.07.10 п.343

Скачать