44976-10: Микроскоп электронно-ионный растровый Quanta 200 3D

Для измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком. Микроскоп может применяться при проведения научных и прикладных исследований твердотельных образцов, включая наноструктурированные материалы и нанообъекты, в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, геологии, биологии, медицине, металлургии, а также в лабораториях промышленных предприятий, научно-исследовательских и учебных организаций.

Основные данные
Госреестр №	44976-10
Наименование	Микроскоп электронно-ионный растровый
Модель	Quanta 200 3D
Технические условия	тех.документация фирмы
Класс СИ	27.01
Год регистрации	2010
Методика поверки	ГОСТ Р 8.631-07
Межповерочный интервал	1 год
Страна-производитель	США
Центр сертификации СИ
Наименование	ГЦИ СИ ОАО "НИЦПВ"
Адрес	119421, г.Москва, ул.Новаторов, 40, корп.1
Руководитель	Тодуа Павел Андреевич
Телефон	(8*095) 935-97-77
Факс	132-60-13
Информация о сертификате
Срок действия сертификата	. .
Номер сертификата	40537
Тип сертификата (На серию или на партию)	Е
Дата протокола	03д от 29.07.10 п.353

Скачать