Декабрь Классификатор средств измерений по годам

Оборудование

48399-11
RT Термопреобразователи сопротивления
Фирма "Kjaerulf Pedersen a/s", Дания
Для измерения температуры в различных отраслях промышленности.
Для преобразования оптического сигнала в электрический. Область применения: измерение и контроль мощности и энергии пучков лазерного излучения в различных областях науки и техники.
Для преобразования оптического сигнала в электрический. Область применения: измерение и контроль мощности и энергии пучков лазерного излучения в различных областях науки и техники.
Для преобразования оптического сигнала в электрический. Область применения: измерение и контроль мощности и энергии пучков лазерного излучения в различных областях науки и техники.
Для преобразования оптического сигнала в электрический. Область применения: измерение и контроль мощности и энергии пучков лазерного излучения в различных областях науки и техники.
Для преобразования оптического сигнала в электрический. Область применения: измерение и контроль мощности и энергии пучков лазерного излучения в различных областях науки и техники.
Для преобразования оптического сигнала в электрический. Область применения: измерение и контроль мощности и энергии пучков лазерного излучения в различных областях науки и техники.
48392-11
ИМИ-01 Измерители мощности излучения
ООО "Бином", г.Калуга
Для измерений энергетических параметров излучения импульсных и непрерывных лазеров и светодиодов.
Для измерений температуры и средней температуры жидких продуктов и их паров, а также газов в резервуарах.
Для измерений температуры и средней температуры жидких продуктов и их паров, а также газов в резервуарах.
48390-11
INCA WAVE 700 Спектрометр рентгеновский с волновой дисперсией
Фирма "Oxford Instruments Analytical Limited", Великобритания
Для измерений длины волны и относительной интенсивности рентгеновского излучения в составе растровых электронных микроскопов и электроннозондовых микроанализаторов.
48389-11
AxioImager m2M Микроскоп оптический
Фирма "Carl Zeiss MicroImaging GmbH", Германия
Для измерений линейных размеров функциональных элементов нано- и микроэлектромеханических систем.
Для измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком.
Для измерений тока вторичных ионов, возникающих при послойном травлении исследуемого объекта потоком первичных ионов, в зависимости от отношения массы к заряду вторичных ионов или от времени травления.
Для измерения геометрических размеров объектов, оценки качества структуры материалов, сохранения изображений наблюдаемой структуры в электронном и печатном виде (с помощью программного обеспечения). Могут использоваться в области металлографии, матер...