48388-11: Микроскоп электронно-ионный растровый Helios NanoLab 650
Для измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком.
| Основные данные | |
|---|---|
| Госреестр № | 48388-11 |
| Наименование | Микроскоп электронно-ионный растровый |
| Модель | Helios NanoLab 650 |
| Технические условия | тех.документация фирмы |
| Класс СИ | 27.01 |
| Год регистрации | 2011 |
| Методика поверки | ГОСТ Р 8.631-07 |
| Межповерочный интервал | 1 год |
| Страна-производитель | США |
| Центр сертификации СИ | |
| Наименование | ГЦИ СИ ОАО "НИЦПВ" |
| Адрес | 119421, г.Москва, ул.Новаторов, 40, корп.1 |
| Руководитель | Тодуа Павел Андреевич |
| Телефон | (8*095) 935-97-77 |
| Факс | 132-60-13 |
| Информация о сертификате | |
| Срок действия сертификата | . . |
| Номер сертификата | 44655 |
| Тип сертификата (На серию или на партию) | Е |
| Дата протокола | Приказ 6354 от 06.12.11 п.08 |
Производитель / Заявитель
Фирма "FEI Company", США
США
5350 NE Dawson Creek Drive, Hillsboro, Oregon 97124, USA Тел. +1(503)726-7500. Факс +1(503)726-2570
Скачать
48388-11: Описание типа СИ
480.7 КБ Скачать