Приборы и установки для измерения параметров электронных ламп и полупроводниковых приборов Классификатор средств измерений по МИ
Оборудование
48987-12
SemiCon-1 Приборы неразрушающего контроля электрофизических параметров широкозонных полупроводников
ФГБ образовательное учреждение высшего профессионального образования "Национальный исследовательский Томский государственный университет" (ТГУ), г.Томск
Для экспрессного бесконтактного локального измерения удельного сопротивления, времени жизни неравновесных носителей заряда и определения типа проводимости в пластинах и толстых шайбах поли- и монокристаллического кремния, германия, арсенида галлия в...
46560-11
Л2-108 Измерители-анализаторы автоматизированные импульсные статических вольтамперных характеристик полевых СВЧ транзисторов
ООО "Системы компьютерного контроля и диагностики" (ООО "СККиД"), г.Фрязино
Для измерения вольтамперных характеристик и разбраковки полевых СВЧ транзисторов и других полупроводниковых приборов в условиях их серийного производства.
45517-10
HMS-3000 Установка для измерения параметров полупроводниковых материалов на эффекте Холла
Фирма "Ecopia", Корея
Для измерения удельного электрического сопротивления, коэффициента Холла, определения типа проводимости, концентрации и подвижности основных носителей заряда полупроводниковых материалов и полупроводниковых структур на подложках из арсенида галлия в...
39905-10
4155С, 4156С Измерители параметров полупроводниковых приборов
Фирма "Keysinght Technologies International Japan, Ltd.", Япония
Для измерения и автоматизации контроля электрических параметров полупроводниковых приборов, анализа их функциональных зависимостей, отображения на дисплее вольтамперных характеристик исследуемого объекта в виде графиков и таблиц, расчета на их основе...
39905-10
4155С, 4156С Измерители параметров полупроводниковых приборов
Фирма "Keysinght Technologies International Japan, Ltd.", Япония
Для измерения и автоматизации контроля электрических параметров полупроводниковых приборов, анализа их функциональных зависимостей, отображения на дисплее вольтамперных характеристик исследуемого объекта в виде графиков и таблиц, расчета на их основе...
Для контроля и измерения статических параметров интегральных микросхем в условиях серийного и массового производства на межоперационном и выходном контроле приборов в корпусах и на пластинах при ручной и автоматической загрузке и выгрузке.
40958-09
УПАК-СЧ Установка для измерения параметров радиоэлектронных средств
ОАО "ВНИИ "Эталон", г.Москва
Для измерений напряжения постоянного и переменного тока, силы постоянного тока, мощности ВЧ сигналов, частоты, девиации частоты, коэффициента нелинейных искажений, амплитуды импульсных сигналов, а также для регистрации и отображения результатов измер...
40957-09
УПАК-НЧ Установка для измерения параметров радиоэлектронных средств
ОАО "ВНИИ "Эталон", г.Москва
Для измерений напряжения постоянного и переменного тока, силы постоянного тока, частоты сигналов, коэффициента нелинейных искажений, амплитуды импульсных сигналов, генерации периодических НЧ сигналов, а также для регистрации и отображения результатов...
Для измерения на переменном токе параметров емкостных объектов, представляемых параллельной или последовательной схемой замещения. Применяется в электронной промышленности при производстве и исследовании полупроводниковых приборов и для контроля каче...
39905-08
4155C, 4156C Измерители параметров полупроводниковых приборов
Фирма "Agilent Technologies", Малайзия
Для измерения и автоматизации контроля электрических параметров полупроводниковых приборов, анализа их функциональных зависимостей, отображения на дисплее вольтамперных характеристик исследуемого объекта в виде графиков и таблиц, расчета на их основе...
39905-08
4155C, 4156C Измерители параметров полупроводниковых приборов
Фирма "Agilent Technologies", Малайзия
Для измерения и автоматизации контроля электрических параметров полупроводниковых приборов, анализа их функциональных зависимостей, отображения на дисплее вольтамперных характеристик исследуемого объекта в виде графиков и таблиц, расчета на их основе...
39903-08
B1500A с модулями B1510A, B1511A, B1517A, E5288A Измерители параметров полупроводниковых приборов
Фирма "Agilent Technologies", Малайзия
Для измерения и автоматизации контроля электрических параметров полупроводниковых приборов, анализа их функциональных зависимостей, отображения на дисплее вольтамперных характеристик исследуемого объекта в виде графиков и таблиц, расчета на их основе...
39903-08
B1500A с модулями B1510A, B1511A, B1517A, E5288A Измерители параметров полупроводниковых приборов
Фирма "Agilent Technologies", Малайзия
Для измерения и автоматизации контроля электрических параметров полупроводниковых приборов, анализа их функциональных зависимостей, отображения на дисплее вольтамперных характеристик исследуемого объекта в виде графиков и таблиц, расчета на их основе...
35884-07
NI PXI 1033 с модулями 4070, 4071, 4110 Система для измерений электрических параметров полупроводниковых приборов
Компания "National Instruments", США
Для прецизионных измерений постоянного и переменного электрического напряжения и силы тока, электрического сопротивления и частоты, а также для питания полупроводниковых приборов в режимах источника постоянного тока или постоянного напряжения, для пр...
35430-07
ДМТ-220 Комплексы измерительные параметров активных и пассивных электронных элементов ЭРИ
ЗАО "ДМТ Электроникс", г.Москва
Спецраздел. Для измерений параметров активных и пассивных электронных элементов, построения семейств их характеристик, и применяется для контроля параметров активных и пассивных электронных элементов при их испытаниях.
- « Назад
- Вперёд »