48987-12: Приборы неразрушающего контроля электрофизических параметров широкозонных полупроводников SemiCon-1

Для экспрессного бесконтактного локального измерения удельного сопротивления, времени жизни неравновесных носителей заряда и определения типа проводимости в пластинах и толстых шайбах поли- и монокристаллического кремния, германия, арсенида галлия в лабораторных условиях.

Основные данные
Госреестр №	48987-12
Наименование	Приборы неразрушающего контроля электрофизических параметров широкозонных полупроводников
Модель	SemiCon-1
Технические условия	ТУ 4276-019-02069318-2011
Класс СИ	27.01
Год регистрации	2012
Методика поверки	раздел 4 ПЛЛГ.411721.001 РЭ
Межповерочный интервал	1 год
Страна-производитель	Россия
Центр сертификации СИ
Наименование	ГЦИ СИ СНИИМ
Адрес	630004, г.Новосибирск, пр.Димитрова, 4
Руководитель	Черепанов Виктор Яковлевич
Телефон	(8*383*2) 10-08-14
Факс	10-13-60
Информация о сертификате
Срок действия сертификата	08.02.2017
Номер сертификата	45406
Тип сертификата (На серию или на партию)	С
Дата протокола	Приказ 78 от 08.02.12 п.24

Скачать