2010 Классификатор средств измерений по годам

Оборудование

45330-10
ETDR 10, ETDR 10С, ETDR 10V Определители места повреждения кабеля
Кооператив техники связи "Elektronika", Венгрия
Для рефлектометрического определения расстояния до места повреждений на кабелях связи. Область применения - объекты связи.
45329-10
R&S TSMW Анализаторы радиосетей
Фирма "Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG", Германия
Для измерения параметров, анализа покрытия и оптимизации сетей беспроводной связи в диапазоне частот 30 МГц...6 ГГц. Применяются при развертывании и эксплуатации сетей беспроводной связи различных стандартов (LTE, WiMAX, GSM, WCDMA, TETRA), а также д...
45328-10
U2701A и U2702A Осциллографы модульные
Фирма "Keysinght Technologies Microwave Products (M) Sdn.Bhd", Малайзия
Для исследования формы и измерений амплитудных и временных параметров электрических сигналов. Область применения - контроль параметров, наладка и ремонт радиоэлектронной аппаратуры в лабораторных условиях.
45328-10
U2701A и U2702A Осциллографы модульные
Фирма "Keysinght Technologies Microwave Products (M) Sdn.Bhd", Малайзия
Для исследования формы и измерений амплитудных и временных параметров электрических сигналов. Область применения - контроль параметров, наладка и ремонт радиоэлектронной аппаратуры в лабораторных условиях.
Для измерения электрических параметров кабелей связи с металлическими жилами. Область применения - кабели связи.
45326-10
ВД Счетчики воды универсальные
ЗАО "Компания Верле", г.Москва
Для измерений объемов питьевой воды по СаНПиН 2.1.4.559 в системах водоснабжения и воды в тепловых сетях по СНиП 2.04.07 систем теплоснабжения. Область применения - объекты жилищно-коммунального хозяйства.
Для измерения активной и реактивной электроэнергии, для осуществления эффективного автоматизированного коммерческого учета и контроля потребления электроэнергии и мощности потребляемой с ОРЭ по всем расчетным точкам учета, а также регистрации парамет...
45324-10
Libra120 Микроскоп электронный просвечивающий
Фирма "Carl Zeiss, Inc.", Германия
Для измерения геометрических расстояний и размеров элементов тонкой субмикронной структуры твердотельных материалов. Применяется в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, геологии, биологии, металлургии, а так же в лаборат...