52088-12: Микроскоп зондовый сканирующий атомно-силовой JSPM 5400
Микроскоп зондовый сканирующий атомно-силовой JSPM 5400 (далее - микроскоп) предназначен для измерений параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред с атомарным разрешением.
| Основные данные | |
|---|---|
| Госреестр № | 52088-12 |
| Наименование | Микроскоп зондовый сканирующий атомно-силовой |
| Модель | JSPM 5400 |
| Год регистрации | 2012 |
| Методика поверки | ГОСТ Р 8.630-2007 |
| Межповерочный интервал | 1 год |
| Страна-производитель | Япония |
| Информация о сертификате | |
| Срок действия сертификата | .. |
| Номер сертификата | 49135 |
| Тип сертификата (На серию или на партию) | E |
| Дата протокола | Приказ 1133 п. 07 от 14.12.2012 |
Производитель / Заявитель
Скачать
52088-12: Описание типа СИ
222.1 КБ Скачать