50909-12: Микроскоп электронно-ионный растровый JIB-4500

Микроскоп электронно-ионный растровый JIB-4500 (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком.

Основные данные
Госреестр №	50909-12
Наименование	Микроскоп электронно-ионный растровый
Модель	JIB-4500
Год регистрации	2012
Методика поверки	ГОСТ Р 8.631-2007
Межповерочный интервал	1 год
Страна-производитель	Япония
Информация о сертификате
Срок действия сертификата	..
Номер сертификата	47772
Тип сертификата (На серию или на партию)	E
Дата протокола	Приказ 650 п. 06 от 24.08.2012

Скачать