48091-11: Микроскоп электронный просвечивающий с аналитическими модулями JEM-2100

Для измерений геометрических расстояний и размеров элементов микро- и ультраструктуры, а также для анализа локального элементного состава и кристаллической структуры тонкопленочных образцов (ультратонких срезов ткани, залитой в полимер, и суспензий микрочастиц (вплоть до наноразмерных), нанесенных на полимерную пленку-подложку). Применяется в материаловедении, биологических, медицинских исследованиях, а также при оценке биобезопасности продукции наноиндустрии и нанотехнологий.

Основные данные
Госреестр №	48091-11
Наименование	Микроскоп электронный просвечивающий с аналитическими модулями
Модель	JEM-2100
Технические условия	тех.документация фирмы
Класс СИ	27.01
Год регистрации	2011
Методика поверки	МП 48091-11
Межповерочный интервал	1 год
Страна-производитель	Япония
Центр сертификации СИ
Наименование	ГЦИ СИ ВНИИМС
Адрес	119361, г.Москва, Озерная ул., 46
Руководитель	Кононогов Сергей Алексеевич
Телефон	(8*095) 437-55-77
Факс	437-56-66
Информация о сертификате
Срок действия сертификата	. .
Номер сертификата	44262
Тип сертификата (На серию или на партию)	Е
Дата протокола	Приказ 6279 от 31.10.11 п.02

Скачать