45583-10: Комплекс метрологический для измерения оптических постоянных наноструктурированных сред и метаматериалов в нанофотонике

Для измерения угла вращения плоскости поляризации монохроматического излучения при его прохождении через оптически-активные вещества и структуры на расстояниях, соответствующих областям ближнего (много меньше половины длины волны) и дальнего (больше длины волны) полей, а также показателя преломления. Область применения: лаборатории промышленных предприятий и научно-исследовательских институтов.

Основные данные
Госреестр №	45583-10
Наименование	Комплекс метрологический для измерения оптических постоянных наноструктурированных сред и метаматериалов в нанофотонике
Технические условия	тех.документация ГУНУ
Класс СИ	27.01
Год регистрации	2010
Методика поверки	МП ВНИИОФИ
Межповерочный интервал	1 год
Страна-производитель	Россия
Центр сертификации СИ
Наименование	ГЦИ СИ ВНИИОФИ
Адрес	119361, г.Москва, Озерная ул., 46
Руководитель	Иванов Вячеслав Семенович
Телефон	(8*095) 437-56-33
Факс	437-31-47
Информация о сертификате
Срок действия сертификата	. .
Номер сертификата	41196
Тип сертификата (На серию или на партию)	Е
Дата протокола	03д3 от 29.07.10 п.170

Скачать