44570-10: Микроскоп инвертированный оптический OLYMPUS GX71F
Для измерений при проведении металлографических наблюдений и исследований, в том числе при контроле качества образцов в машиностроении, геологии, микроэлектронике и других отраслях промышленности.
| Основные данные | |
|---|---|
| Госреестр № | 44570-10 |
| Наименование | Микроскоп инвертированный оптический |
| Модель | OLYMPUS GX71F |
| Технические условия | тех.документация фирмы |
| Класс СИ | 27.01 |
| Год регистрации | 2010 |
| Методика поверки | ТГУ44.3100 МП |
| Межповерочный интервал | 2 года |
| Страна-производитель | Япония |
| Центр сертификации СИ | |
| Наименование | ГЦИ СИ СНИИМ |
| Адрес | 630004, г.Новосибирск, пр.Димитрова, 4 |
| Руководитель | Черепанов Виктор Яковлевич |
| Телефон | (8*383*2) 10-08-14 |
| Факс | 10-13-60 |
| Информация о сертификате | |
| Срок действия сертификата | . . |
| Номер сертификата | 40059 |
| Тип сертификата (На серию или на партию) | Е |
| Дата протокола | 01д3 от 25.03.10 п.172 |
Производитель / Заявитель
Фирма "OLYMPUS Co.", Япония
Япония
Shinjuku Monolith, 3-1, Nishi Shinjuku 2-chome, Shinjuku-ku, Tokyo, Japan
Скачать
44570-10: Описание типа СИ
143.3 КБ Скачать