43467-09: Эллипсометр спектральный APECS 3000
Для автоматизированного контроля толщин технологических слоев в процессе производства, а также оптических параметров слоев, зависящих от толщины, таких, как коэффициенты отражения, поглощения, преломления. Мощные возможности обработки и вычисления измеренных данных позволяют использовать эллипсометр как в производстве на межоперационном контроле, так и для научно-исследовательских работ. Может применяться в полупроводниковом производстве, производстве головок магнитных дисков, интегральной оптики для проведения измерений параметров тонких пленок.
| Основные данные | |
|---|---|
| Госреестр № | 43467-09 |
| Наименование | Эллипсометр спектральный |
| Модель | APECS 3000 |
| Технические условия | тех.документация фирмы |
| Класс СИ | 37 |
| Год регистрации | 2009 |
| Методика поверки | Приложение к Руководству по эксплуатации ВНИИОФИ |
| Межповерочный интервал | 1 год |
| Страна-производитель | Германия |
| Центр сертификации СИ | |
| Наименование | ГЦИ СИ ВНИИОФИ |
| Адрес | 119361, г.Москва, Озерная ул., 46 |
| Руководитель | Иванов Вячеслав Семенович |
| Телефон | (8*095) 437-56-33 |
| Факс | 437-31-47 |
| Информация о сертификате | |
| Срок действия сертификата | . . |
| Номер сертификата | 38816 |
| Тип сертификата (На серию или на партию) | Е |
| Дата протокола | 13д2 от 24.12.09 п.45 |
Производитель / Заявитель
Фирма "Leica Microsystems Wetzlar GmbH", Германия
Германия
Ernst-Leitz-Strasse 17-37, B-35578 Wetzlar, Germany Тел. +49-6441-29-2529; Факс +49-6441-29-2339
Скачать
43467-09: Описание типа СИ
173.9 КБ Скачать