42432-09: Микроскоп электронный растровый Philips XL 40

Для проведения научных и прикладных исследований твердотельных образцов, включая наноструктурированные материалы и нанообъекты. Позволяет проводить количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твёрдотельных структур. Применяется в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, геологии, биологии, медицине, металлургии, а также в лабораториях промышленных предприятий, научно-исследовательских и учебных организаций.

Основные данные
Госреестр №	42432-09
Наименование	Микроскоп электронный растровый
Модель	Philips XL 40
Технические условия	тех.документация фирмы
Класс СИ	27.01
Год регистрации	2009
Методика поверки	ГОСТ Р 8.631-07
Межповерочный интервал	1 год
Страна-производитель	Нидерланды
Центр сертификации СИ
Наименование	ГЦИ СИ ОАО "НИЦПВ"
Адрес	119421, г.Москва, ул.Новаторов, 40, корп.1
Руководитель	Тодуа Павел Андреевич
Телефон	(8*095) 935-97-77
Факс	132-60-13
Информация о сертификате
Срок действия сертификата	. .
Номер сертификата	37477
Тип сертификата (На серию или на партию)	Е
Дата протокола	12д от 10.12.09 п.14

Скачать