41675-09: Микроскопы сканирующие зондовые НаноСкан-3Д

Для измерений геометрических параметров топографии поверхности с нанометровым пространственным разрешением, измерений силы воздействия зонда на поверхность исследуемого образца в отдельных точках, для измерения геометрических характеристик отпечатков в заданных точках поверхности после индентирования с измеренной силой. Результаты измерений могут быть использованы для определения микротвердости в нанометровом диапазоне. Применяются при проведении фундаментальных и прикладных научных исследований, а также для технологического контроля.

Основные данные
Госреестр №	41675-09
Наименование	Микроскопы сканирующие зондовые
Модель	НаноСкан-3Д
Технические условия	ТУ 1706-015-48786949-08
Класс СИ	27.01
Год регистрации	2009
Методика поверки	МП 41675-09
Межповерочный интервал	2 года
Страна-производитель	Россия
Центр сертификации СИ
Наименование	ГЦИ СИ ВНИИМС
Адрес	119361, г.Москва, Озерная ул., 46
Руководитель	Кононогов Сергей Алексеевич
Телефон	(8*095) 437-55-77
Факс	437-56-66
Информация о сертификате
Срок действия сертификата	04.12.2019
Номер сертификата	36630
Тип сертификата (На серию или на партию)	С
Дата протокола	Приказ 1927 п. 01 от 04.12.2014Приказ 1343 п. 01 от 15.09.201409д от 08.10.09 п.116

Скачать