39772-08: Микроскоп электронный просвечивающий JEM-2100F

Для измерений линейных размеров деталей структур, наблюдаемых на изображении, сформированном прошедшими через исследуемый объект электронами, а также анализа микро- и наноструктуры объектов в материаловедении, микроэлектронике, геологии, биологии, металлургии и других отраслях науки и техники.

Основные данные
Госреестр №	39772-08
Наименование	Микроскоп электронный просвечивающий
Модель	JEM-2100F
Технические условия	тех.документация фирмы
Класс СИ	27.01
Год регистрации	2008
Методика поверки	МП НИЦПВ
Межповерочный интервал	1 год
Страна-производитель	Япония
Центр сертификации СИ
Наименование	ГЦИ СИ ОАО "НИЦПВ"
Адрес	119421, г.Москва, ул.Новаторов, 40, корп.1
Руководитель	Тодуа Павел Андреевич
Телефон	(8*095) 935-97-77
Факс	132-60-13
Информация о сертификате
Срок действия сертификата	. .
Номер сертификата	34293
Тип сертификата (На серию или на партию)	Е
Дата протокола	14д от 25.12.08 п.94

Скачать