39771-08: Микроскоп атомно-силовой Dimension 3100

Для измерений линейных размеров деталей структуры, наблюдаемых на изображении, сформированном при сканировании поверхности зондом. Применяется в материаловедении, микроэлектронике, геологии, биологии, металлургии и других отраслях науки и техники.

Основные данные
Госреестр №	39771-08
Наименование	Микроскоп атомно-силовой
Модель	Dimension 3100
Технические условия	тех.документация фирмы
Класс СИ	27.01
Год регистрации	2008
Методика поверки	ГОСТ Р 8.630-07
Межповерочный интервал	1 год
Страна-производитель	США
Центр сертификации СИ
Наименование	ГЦИ СИ ОАО "НИЦПВ"
Адрес	119421, г.Москва, ул.Новаторов, 40, корп.1
Руководитель	Тодуа Павел Андреевич
Телефон	(8*095) 935-97-77
Факс	132-60-13
Информация о сертификате
Срок действия сертификата	. .
Номер сертификата	34292
Тип сертификата (На серию или на партию)	Е
Дата протокола	14д от 25.12.08 п.93

Скачать