39763-08: Микроскоп электронный растровый JSM-7001F

Для количественного морфологического анализа и измерения линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, применяется в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, геологии, биологии, медицине, металлургии, а также в лабораториях промышленных предприятий, научно-исследовательских и учебных организаций.

Основные данные
Госреестр №	39763-08
Наименование	Микроскоп электронный растровый
Модель	JSM-7001F
Технические условия	тех.документация фирмы
Класс СИ	27.01
Год регистрации	2008
Методика поверки	ГОСТ Р 8.631-07
Межповерочный интервал	1 год
Страна-производитель	Япония
Центр сертификации СИ
Наименование	ГЦИ СИ ОАО "НИЦПВ"
Адрес	119421, г.Москва, ул.Новаторов, 40, корп.1
Руководитель	Тодуа Павел Андреевич
Телефон	(8*095) 935-97-77
Факс	132-60-13
Информация о сертификате
Срок действия сертификата	. .
Номер сертификата	34284
Тип сертификата (На серию или на партию)	Е
Дата протокола	14д от 25.12.08 п.83

Скачать