37834-08: Микроскопы сканирующие зондовые Solver P47

Для количественного морфологического анализа и измерений линейных размеров элементов структуры (периода, шага, ширины и высоты ступени) микро-, нанорельефа поверхности исследуемых образцов из разных материалов (проводники, полупроводники, диэлектрики) с атомарным разрешением. Применяются в микро-, опто-, наноэлектронике, нанотехнологии, микромеханике, фармацевтике и микробиологии, производстве полимеров и генной инженерии, создании наноструктурных материалов, запоминающих сред, химии и химической технологии, металлургии, лабораториях промышленных предприятий, научно-исследовательскихи учебных организациях.

Основные данные
Госреестр №	37834-08
Наименование	Микроскопы сканирующие зондовые
Модель	Solver P47
Технические условия	тех. документация фирмы
Класс СИ	27.01
Год регистрации	2008
Методика поверки	ГОСТ Р 8.630-07
Межповерочный интервал	1 год
Страна-производитель	Россия
Центр сертификации СИ
Наименование	ГЦИ СИ ОАО "НИЦПВ"
Адрес	119421, г.Москва, ул.Новаторов, 40, корп.1
Руководитель	Тодуа Павел Андреевич
Телефон	(8*095) 935-97-77
Факс	132-60-13
Информация о сертификате
Срок действия сертификата	. .
Номер сертификата	31756
Тип сертификата (На серию или на партию)	Е
Дата протокола	07 от 29.05.08 п.17

Скачать