35858-07: Микроскоп исследовательский для тестирования материалов Leica DM IRM

Для измерения расстояний, размеров гранул и других деталей структуры, наблюдаемых на изображении при анализе микроструктуры металлов и других материалов.

Основные данные
Госреестр №	35858-07
Наименование	Микроскоп исследовательский для тестирования материалов
Модель	Leica DM IRM
Технические условия	тех.документация фирмы
Класс СИ	27.01
Год регистрации	2007
Методика поверки	МП Тест-Санкт-Петербург
Межповерочный интервал	1 год
Страна-производитель	Германия
Центр сертификации СИ
Наименование	ГЦИ СИ ФБУ "Тест-Санкт-Петербург"
Адрес	198103, г.С.-Петербург, ул.Курляндская, 1
Руководитель	Окрепилов Владимир Валентинович
Телефон	(8*812) 251-39-50
Факс	251-41-08
Информация о сертификате
Срок действия сертификата	. .
Номер сертификата	29293
Тип сертификата (На серию или на партию)	Е
Дата протокола	11 от 27.09.07 п.08

Скачать