33468-06: Микроскоп электронный просвечивающий с рентгеновским спектрометром Tecnai G2 30 S-TWIN (микроскоп) EDAX (спектрометр)
Для измерений линейных размеров деталей структуры, наблюдаемых на изображении, сформированном прошедшими через исследуемый объект электронами, а также анализа микро- и наноструктуры объектов и их элементного состава в материаловедении, микроэлектронике, геологии, биологии, металлургии и другихотраслях науки и техники.
| Основные данные | |
|---|---|
| Госреестр № | 33468-06 |
| Наименование | Микроскоп электронный просвечивающий с рентгеновским спектрометром |
| Модель | Tecnai G2 30 S-TWIN (микроскоп) EDAX (спектрометр) |
| Технические условия | тех.документация фирмы |
| Класс СИ | 27.01 |
| Год регистрации | 2006 |
| Методика поверки | МП "НИЦПВ" |
| Межповерочный интервал | 1 год |
| Страна-производитель | США |
| Центр сертификации СИ | |
| Наименование | ГЦИ СИ ОАО "НИЦПВ" |
| Адрес | 119421, г.Москва, ул.Новаторов, 40, корп.1 |
| Руководитель | Тодуа Павел Андреевич |
| Телефон | (8*095) 935-97-77 |
| Факс | 132-60-13 |
| Информация о сертификате | |
| Срок действия сертификата | . . |
| Номер сертификата | 26229 |
| Тип сертификата (На серию или на партию) | Е |
| Дата протокола | 14д от 14.12.06 п.175 |
Производитель / Заявитель
Фирма "FEI Company", США
США
5350 NE Dawson Creek Drive, Hillsboro, Oregon 97124, USA Тел. +1(503)726-7500. Факс +1(503)726-2570
Скачать
33468-06: Описание типа СИ
216.1 КБ Скачать