28664-05: Микроскопы сканирующие зондовые Ntegra

Для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред с атомарным разрешением, применяются в микро-, опто-, наноэлектронике, нанотехнологии, микромеханике, фармацевтике и микробиологии, производстве полимеров и генной инженерии, создании наноструктурныхматериалов, запоминающих сред, химии и химической технологии, металлургии, в лабораториях промышленных предприятий, научно-исследовательских и учебных организаций.

Основные данные
Госреестр №	28664-05
Наименование	Микроскопы сканирующие зондовые
Модель	Ntegra
Технические условия	ТУ 4254-001-58699387-2004
Класс СИ	27.01
Год регистрации	2010
Методика поверки	МП НИЦПВ
Межповерочный интервал	1 год
Страна-производитель	Россия
Центр сертификации СИ
Наименование	ГЦИ СИ ОАО "НИЦПВ"
Адрес	119421, г.Москва, ул.Новаторов, 40, корп.1
Руководитель	Тодуа Павел Андреевич
Телефон	(8*095) 935-97-77
Факс	132-60-13
Информация о сертификате
Срок действия сертификата	01.03.2010
Номер сертификата	19922 аннул
Тип сертификата (На серию или на партию)	С
Дата протокола	01д2 от 18.03.10 п.32802 от 10.02.05 п.66

Скачать