20931-01: Дифрактометры Xstress 3000

Для измерения параметров кристаллических структур образцов в зависимости от внешних условий (механических напряжений) посредством измерения углов дифракции рентгеновских лучей по положениям максимумов интенсивности дифракционной картины, для применения в машиностроении, металлургической, горно-перерабатывающей, химической, электронной и других отраслях промышленности, в также научно-исследовательских лабораториях и лабораториях контроля качества.

Основные данные
Госреестр №	20931-01
Наименование	Дифрактометры
Модель	Xstress 3000
Технические условия	тех.документация фирмы
Класс СИ	31.02
Год регистрации	2008
Методика поверки	МП ВНИИМ
Межповерочный интервал	1 год
Страна-производитель	Финляндия
Центр сертификации СИ
Наименование	ГЦИ СИ ВНИИМ
Адрес	198005, г.С.-Петербург, Московский пр., 19
Руководитель	Ханов Николай Иванович
Телефон	(8*812) 251-76-01
Факс	113-01-14
Информация о сертификате
Срок действия сертификата	01.03.2006
Номер сертификата	9640 аннул
Тип сертификата (На серию или на партию)	С
Дата протокола	06 от 15.05.08 п.21003 от 27.02.01 п.75

Скачать