17990-98: Дефектоскопы ультразвуковые портативные низкочастотные микропроцессорные УД2Н-П

Для неразрушающего контроля продукции на наличие дефектов (обнаружение дефектов) типа: нарушение сплошности и однородности материалов, полуфабрикатов, готовых изделий и сварных соединений, для измерения глубины и координат их залегания, измерения толщины, измерения скорости распространения и затухания продольных ультразвуковых колебаний (УЗК) в материале в составе ультразвуковых приборов неразрушающего контроля с помощью пьезоэлектрических преобразователей, работающих на частотах 20...200 кГц.

Основные данные
Госреестр №	17990-98
Наименование	Дефектоскопы ультразвуковые портативные низкочастотные микропроцессорные
Модель	УД2Н-П
Технические условия	ТУ 7610-002-07504206-98
Класс СИ	27.01
Год регистрации	2004
Методика поверки	МП ВНИИОФИ
Межповерочный интервал	1 год
Страна-производитель	Россия
Центр сертификации СИ
Наименование	ГЦИ СИ ВНИИОФИ
Адрес	119361, г.Москва, Озерная ул., 46
Руководитель	Иванов Вячеслав Семенович
Телефон	(8*095) 437-56-33
Факс	437-31-47
Информация о сертификате
Срок действия сертификата	01.01.2004
Номер сертификата	5801/2 аннул
Тип сертификата (На серию или на партию)	С
Дата протокола	04 от 30.03.04 п.22417 от 15.12.98 п.47

Скачать