13422-97: Спектрометры рентгеновские сканирующие кристалл-дифракционные портативные Спектроскан

Для измерений интенсивностей аналитических линий химических элементов. По интенсивностям аналитических линий путем пересчета определяется концентрация содержащихся в образце химических элементов.

Основные данные
Госреестр №	13422-97
Наименование	Спектрометры рентгеновские сканирующие кристалл-дифракционные портативные
Модель	Спектроскан
Модификации	Спектроскан, Спектроскан-S, Спектроскан-U, Спектроскан-UL, Спектроскан-UF, Спектроскан-ULF, Спектроскан-V, Спектроскан-V-01
Технические условия	ТУ 4276-002-31074423-98
Класс СИ	31.01
Год регистрации	2000
Методика поверки	СП.000.000 Д22
Межповерочный интервал	2 года
Страна-производитель	Россия
Центр сертификации СИ
Наименование	ГЦИ СИ ВНИИМ
Адрес	198005, г.С.-Петербург, Московский пр., 19
Руководитель	Ханов Николай Иванович
Телефон	(8*812) 251-76-01
Факс	113-01-14
Информация о сертификате
Срок действия сертификата	01.06.2002
Номер сертификата	7766
Тип сертификата (На серию или на партию)	С
Дата протокола	04 от 14.03.00 п.10808 от 20.05.97 п.69

Скачать