Электронные лампы и полупроводниковые приборы Классификатор средств измерений по тэгам

Оборудование

Для задания значений - напряжения постоянного тока на входных контактах и контактах питания и измерения напряжения постоянного тока на выходных контактах испытуемых ИС и радиокомпонентов в соответствии с управляющей программой, для использования при...
49105-12
R&S ZNC3, ZNB4, ZNB8 Анализаторы цепей векторные
Фирма "Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG", Германия
Анализаторы цепей векторные R&S ZNC3, ZNB4, ZNB8 предназначены для измерения комплексных коэффициентов передачи и отражения (S-параметров) двухполюсников и четырехполюсников в коаксиальном волноводе с диаметром поперечного сечения 7,0/3,04 мм с соеди...
34031-12
АИД-70М Аппараты испытания диэлектриков
ООО СКБ "Медрентех", пос.Мосрентген
Для генерирования и измерения высоких напряжений постоянного и переменного тока при испытании и диагностировании изоляции силовых кабелей и твердых диэлектриков высоким напряжением постоянного тока или переменного тока номинальной частоты 50 Гц. Обла...
Для измерения тангенса угла диэлектрических потерь tgб трансформаторного масла на промышленной частоте (50±0,5) Гц по ГОСТ 6581-75 "Материалы электроизоляционные жидкие. Методы электрических испытаний".
Для воспроизведения сигналов произвольной формы в диапазоне частот 1 Гц...80 МГц, сигналов специальной формы в диапазоне частот 0,01 Гц...200 кГц, сигналов прямоугольной формы в диапазоне частот 1 Гц...2 ГГц и синусоидального сигнала 250 кГц...3 ГГц,...
Для воспроизведения сигналов произвольной формы в диапазоне частот 1 Гц...80 МГц, сигналов специальной формы в диапазоне частот 0,01 Гц...200 кГц, сигналов прямоугольной формы в диапазоне частот 1 Гц...2 ГГц и синусоидального сигнала 250 кГц...3 ГГц,...
48530-11
ETС-868 Тестер параметров цифровых интегральных микросхем
ООО "ДМТ Трейдинг", Беларусь, г.Минск
Для воспроизведения и измерения напряжения и силы постоянного тока, частоты следования прямоугольных импульсов и применяется для высокопроизводительного функционального и параметрического контроля ТТЛ и КМОП микросхем с числом выводов до 512 с рабоче...
48451-11
ETС-780 Тестер параметров цифровых интегральных микросхем
ООО "ДМТ Трейдинг", Беларусь, г.Минск
Для воспроизведения и измерения напряжения и силы постоянного тока, частоты следования прямоугольных импульсов и применяется для высокопроизводительного функционального и параметрического контроля ТТЛ и КМОП микросхем с числом выводов до 512 с рабоче...
48355-11
ZVA50, ZVA67, ZVA80 Анализаторы электрических цепей векторные
Фирма "Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG", Германия
Для измерений комплексных S-параметров двух и четырехполюсных устройств в коаксиальных трактах.
47220-11
E5061B Анализаторы цепей векторные
Фирма "Agilent Technologies", Малайзия
Для измерений комплексных S-параметров двух- и четырехполюсных устройств в коаксиальных трактах.
47219-11
N9923A Анализаторы параметров цепей векторные
Фирма "Keysinght Technologies Microwave Products (M) Sdn.Bhd", Малайзия
Для измерений S-параметров коаксиальных многополюсников (ослабление, модуль коэффициента отражения, КСВН, фаза коэффициентов отражения и передачи, активная и реактивная составляющие полного входного сопротивления), группового времени запаздывания, эл...
47219-11
N9923A Анализаторы параметров цепей векторные
Фирма "Keysinght Technologies Microwave Products (M) Sdn.Bhd", Малайзия
Для измерений S-параметров коаксиальных многополюсников (ослабление, модуль коэффициента отражения, КСВН, фаза коэффициентов отражения и передачи, активная и реактивная составляющие полного входного сопротивления), группового времени запаздывания, эл...
Для измерения комплексных коэффициентов передачи и отражения (S-параметров) двухполюсников и четырехполюсников в коаксиальных волноводах с диаметрами поперечных сечений 7,0/3,04 мм и 3,5/1,52 мм с соединителями типов III, N, IX, 3,5 мм и SMA по ГОСТ...
Спецраздел. Для измерений комплексных S- параметров 2-х и 4-х полюсных устройств в коаксиальных трактах и применяются в процессе разработки, ремонта и эксплуатации радиотехнических устройств, в том числе в составе автоматизированных измерительных сис...
Для измерения удельного электрического сопротивления, коэффициента Холла, определения типа проводимости, концентрации и подвижности основных носителей заряда полупроводниковых материалов и полупроводниковых структур на подложках из арсенида галлия в...