15684-03: Микроскопы электронные сканирующие XL, "Quanta"
Для измерения линейных размеров деталей структуры, наблюдаемых на изображении и анализа микроструктуры объектов в химии, биологии, металлургии, физике твердого тела, материаловедении, геологии и других отраслях науки и техники.
| Основные данные | |
|---|---|
| Госреестр № | 15684-03 |
| Наименование | Микроскопы электронные сканирующие |
| Модель | XL, "Quanta" |
| Технические условия | тех.документация фирмы |
| Класс СИ | 27.01 |
| Год регистрации | 2003 |
| Методика поверки | МП ВНИИМ |
| Межповерочный интервал | 1 год |
| Страна-производитель | Нидерланды |
| Центр сертификации СИ | |
| Наименование | ГЦИ СИ ВНИИМ |
| Адрес | 198005, г.С.-Петербург, Московский пр., 19 |
| Руководитель | Ханов Николай Иванович |
| Телефон | (8*812) 251-76-01 |
| Факс | 113-01-14 |
| Информация о сертификате | |
| Срок действия сертификата | 01.02.2008 |
| Номер сертификата | 14015 |
| Тип сертификата (На серию или на партию) | С |
| Дата протокола | 01 от 14.01.03 п.180 |
Производитель / Заявитель
Фирма "FEI Company/ Philips Electron Optics", Нидерланды
Нидерланды
Building AAE, P.O.Box 218, 5600 MD. Eindhover, The Netherlands
Скачать
15684-03: Описание типа СИ
243.1 КБ Скачать