12435-90: Микроинтерферометры МИИ-4М

Для измерения параметров шероховатости поверхности и для измерения толщины пленок (высоты уступов, образованных краями пленки и подложки). Применяется в машиностроительной и приборостроительной промышленности и в лабораториях

Основные данные
Госреестр №	12435-90
Наименование	Микроинтерферометры
Модель	МИИ-4М
Технические условия	ТУ 3-3.2171-90
Класс СИ	27.01
Год регистрации	1990
Межповерочный интервал	2 года
Страна-производитель	Россия
Центр сертификации СИ
Наименование	-
Телефон	()
Информация о сертификате
Срок действия сертификата	. .
Номер сертификата	нет
Тип сертификата (На серию или на партию)	С
Дата протокола	07 от 25.09.90 п.17